示波器的觸發(fā)功能－模擬觸發(fā)器的缺點(diǎn)   

示波器模擬觸發(fā)器的缺點(diǎn)  

通過(guò)分析，我們可以總結(jié)出模擬觸發(fā)器的一些不足之外，包括以下幾個(gè)方面： 

• 觸發(fā)抖動(dòng) 
• 觸發(fā)靈敏度 
• 觸發(fā)間隙 

觸發(fā)抖動(dòng) 

有以下幾個(gè)因素會(huì)影響到觸發(fā)器的穩(wěn)定性。
1. 比較器輸出抖動(dòng)
比較器的參考門(mén)限電平（V_REF ）通常使用DAC反量化輸出，其過(guò)程受DAC精度、比較器響應(yīng)速度、系統(tǒng)噪聲、環(huán)境溫度影響容易產(chǎn)生漂移（?v），這些因素將會(huì)導(dǎo)致比較器輸出產(chǎn)生抖動(dòng)（?t1），如圖 2.6右所示。當(dāng)然，如果硬件電路控制得好，通常影響會(huì)比較小，甚至可以忽略。

圖 2.6 比較器輸出抖動(dòng) 

2. 采樣與觸發(fā)通路間延時(shí)抖動(dòng)
在模擬觸發(fā)器中，信號(hào)的采樣和觸發(fā)是兩個(gè)不同的物理通路，在設(shè)計(jì)時(shí)，我們認(rèn)為兩個(gè)通道間的延時(shí)為零（或是一個(gè)固定的值，可以修正）；但實(shí)際上，“采樣通路”和“觸發(fā)通路”兩條不同路徑受系統(tǒng)線性、非線性等因素（器件、PCB板材、噪聲及環(huán)境溫度變化等）干擾，會(huì)導(dǎo)致信號(hào)傳輸有延時(shí)差（?dly），產(chǎn)生觸發(fā)抖動(dòng)（?t2），如圖 2.7所示。 

圖 2.7 采樣通路與觸發(fā)通路延時(shí)抖動(dòng) 

3. TDC的測(cè)量精度 

TDC的測(cè)量精度和實(shí)現(xiàn)方法與器件參數(shù)一致性有關(guān)，這是觸發(fā)器的核心單元，由模擬器件組成，通常比較難控制，所以TDC的測(cè)量誤差也是影響觸發(fā)抖動(dòng)的關(guān)鍵因素。
觸發(fā)靈敏度
前面我們分析比較器的時(shí)候有提到觸發(fā)靈敏度，需要通過(guò)更改比較器的反饋電阻來(lái)調(diào)節(jié)，在實(shí)際的應(yīng)用中，通常調(diào)節(jié)好是固定的一個(gè)或兩個(gè)值，不可能允許用戶動(dòng)態(tài)調(diào)整，因此不能很好地適應(yīng)各種復(fù)雜的測(cè)試環(huán)境。 

觸發(fā)間隙 

在分析模擬TDC的工作原理時(shí)，我們發(fā)現(xiàn)觸發(fā)后系統(tǒng)（電容）需要一個(gè)時(shí)間恢復(fù)到初始狀態(tài)，這個(gè)時(shí)間通常和展擴(kuò)后的脈沖相當(dāng)略長(zhǎng)。這在數(shù)字存儲(chǔ)示波器中是致命的，因?yàn)樗鼤?huì)影響延長(zhǎng)兩次觸發(fā)之間（增加死區(qū)時(shí)間）的間隙，這將嚴(yán)重影響波形刷新率，降低示波器的性能。